上海優(yōu)質(zhì)高低溫沖擊試驗箱廠家
更新時間：2025-10-20
上海優(yōu)質(zhì)高低溫沖擊試驗箱廠家均采用業(yè)界優(yōu)秀的溫度平衡技術(shù)（制冷不加熱），通過能量調(diào)節(jié)技術(shù)在降溫及低溫平衡時不需要另外啟動加熱來平衡控溫。能量調(diào)節(jié)技術(shù)即PID控制調(diào)節(jié)制冷劑流量，通過調(diào)節(jié)控制單位時間內(nèi)進(jìn)入蒸發(fā)器制冷劑的質(zhì)量，來達(dá)到精確控制制冷功率，從而精確控制試驗室的溫度。
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上海優(yōu)質(zhì)高低溫沖擊試驗箱廠家
具有運行界面鎖定功能。記錄功能：可記錄100天內(nèi)的曲線及實驗數(shù)據(jù)，可以詳細(xì)查詢100天內(nèi)每一時刻的溫度濕度情況，可用USB2.0導(dǎo)出，在PC機上打印記錄曲線和生成數(shù)據(jù)報表（相當(dāng)于無紙記錄儀的功能）具有開機故障自檢功能。
計算機監(jiān)控系統(tǒng)：控制系統(tǒng)通過計算機以太網(wǎng)或者無線網(wǎng)絡(luò)通訊接口，可實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸及監(jiān)控功能。注：并提供日后軟件免費升級
上海優(yōu)質(zhì)高低溫沖擊試驗箱廠家制冷系統(tǒng)
1.系統(tǒng)理念：此類實驗室均采用業(yè)界優(yōu)秀的溫度平衡技術(shù)（制冷不加熱），通過能量調(diào)節(jié)技術(shù)在降溫及低溫平衡時不需要另外啟動加熱來平衡控溫。能量調(diào)節(jié)技術(shù)即PID控制調(diào)節(jié)制冷劑流量，通過調(diào)節(jié)控制單位時間內(nèi)進(jìn)入蒸發(fā)器制冷劑的質(zhì)量，來達(dá)到精確控制制冷功率，從而精確控制試驗室的溫度。
2.相對以前“平衡控溫方式”即邊加熱邊制冷的方法，能耗非常大。而運用此技術(shù)可在zui大限度上降低客戶的運營成本和延長壓縮機的壽命，可在產(chǎn)品壽命周期內(nèi)可為用戶節(jié)約一筆不小的電費開支（因客戶實際使用頻率高低而已）
3.制冷硬件:采用“泰康”全封閉壓縮機組成制冷循環(huán)系統(tǒng)。
4.制冷劑：采用環(huán)保制冷劑R404a，R23。
5.制冷蒸發(fā)器：采用波紋翅片制冷蒸發(fā)器，位于試驗箱一端的風(fēng)道夾層內(nèi)，由鼓風(fēng)電機強制通風(fēng)，快速換熱。
6.輔助件:本試驗箱制冷系統(tǒng)中其他輔助件，如電磁閥、過濾器等我公司也采用進(jìn)口件；如采用意大利CAS的電磁閥、旁通閥、截止閥等，其它配件也均選用國內(nèi)品牌的制冷配件。
7.低溫管路：低溫管路采用優(yōu)質(zhì)無氧銅管、充氮焊接（傳統(tǒng)方式采用普通銅管，直接焊接方式，易使銅管內(nèi)壁產(chǎn)生氧化物，造成制冷系統(tǒng)堵塞，使試驗箱不降溫或降溫慢）
8.在制冷系統(tǒng)底部設(shè)有凝結(jié)水接水盤，并排出箱外。
9.減振：采用壓縮機膠墊或彈簧減振措施；制冷系統(tǒng)管路采用增加R和彎頭的方式避免因振動和溫度的變化引起的銅管的變型，從而造成制冷系統(tǒng)管路破裂。
10.降噪：采用波浪狀的特種消音海綿吸音。
上海優(yōu)質(zhì)高低溫沖擊試驗箱廠家保養(yǎng)方法
a.冷熱沖擊試驗機冷凍機組之散熱器(冷凝器) 應(yīng)定期保養(yǎng), 保持清潔。灰塵粘糊冷凝器會使壓縮機高壓開關(guān)跳脫而產(chǎn)生誤報警，冷凝器應(yīng)定期每月保養(yǎng),利用真空吸塵器將冷凝器散熱網(wǎng)片上附著之其塵吸除或開機后使用質(zhì)硬的毛刷刷之或用高壓氣嘴吹干凈灰塵。
b.開關(guān)門或從爐內(nèi)取測試物時，不得讓物品與門上膠邊接觸，以防膠邊被破壞和縮短壽命.
c.機身周圍和底部的地面要隨時保持清潔，以免大量灰塵吸入機組內(nèi)產(chǎn)生意外事故和降低性能.
d.冷熱沖擊試驗機冷凍系統(tǒng)是本機的核心，請半年巡檢一次所有銅管有無泄漏雪種情況，各嗽叭接頭、焊接口，如有油漬外泄，請通知本公司或直接處理之.
e.配電盤之大電流接點，配電室內(nèi)每年至少清潔檢修一次以上，接點的松動會使整個設(shè)備處于危險工作狀態(tài)，輕則燒壞組件，重則發(fā)生火災(zāi)、報警、人身傷害非常危險. 清潔時清利用吸塵器將室內(nèi)灰塵吸除即可。
上海優(yōu)質(zhì)高低溫沖擊試驗箱廠家參照標(biāo)準(zhǔn)
本試驗箱符合GB/T2423.1 低溫試驗方法、GB/T2423.2高溫試驗方法。GJB150.5-86溫度沖擊試驗法 、GJB360A-96電子及電氣元件試驗方法。
GJB 150.3高溫試驗；GJB 150.4 低溫試驗；
GB10588-2006 高溫試驗箱技術(shù)條件；
GB10589-2006 低溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件；
QC/T413-2002、GB2423.22、ISO16750-4、IEC60068-2-14標(biāo)準(zhǔn)中所要求的試驗
